방사광 X-선 이용 나노 분석기술 개발
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방사광 X-선 이용 나노 분석기술 개발
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  • 승인 2008.02.22
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      포스텍 화학과 공동 연구팀
 
   저널 `크리스탈로 그래피’ 표지 장식
 
 
 포스텍 화학과 이문호·장태현 교수 공동 연구팀의 연구업적이 세계적인 과학전문지`저널 오브 어플라이드 크리스탈로그래피(Journal of Applied Crystallography)’의 올해 표지를 장식한다.
 연구팀은 포항방사광가속기의 X-선 스침각 산란을 이용해 고분자 나노 구조 및 특성을 정량적으로 분석하는 새로운 나노 분석기술을 세계 최초로 개발했다.
 이 고분자 나노구조체의 산란 패턴 사진이 올해 12월까지 1년 동안 이 저널 표지에 게재되는 것.
 이 기술은 방사광 X-선을 나노 시료 표면에 가까운 각도로 입사시켜 시료를 통과하는 X-선의 양을 획기적으로 증가시켜 양질의 X-선 산란 데이터를 얻는 기술로써 0.1 나노미터의 고분해능으로 고분자 나노 구조 및 특성을 비파괴적으로 분석하는 획기적인 나노 분석기술이다.
 포항가속기연구소 관계자는 “고분자 나노구조의 정확한 크기, 형태, 분포, 배열 등에 대한 데이터를 얻을 수 있고, 측정 시간이 매우 짧아 실시간으로 평가와 분석이 가능한 장점이 있다”며 “앞으로 반도체, 디스플레이 같은 IT 산업에 요구되는 핵심기술이 될 것”으로 기대했다. /남현정기자 nhj@
 
 


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